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Pore segmentation in electron micrographs: A probabilistic approach by ensemble machine learning.

Pore segmentation in electron micrographs: A probabilistic approach by ensemble machine learning.

Kategorien Begutachtete Zeitschriftenartikel und Buchkapitel
Jahr 2026
Autorinnen/Autoren Brysch, M., Laurich, B., & Sester, M.
Veröffentlicht in Applied Clay Science, 279, 108047.